光切顯微鏡的簡(jiǎn)介和原理 - 分析行業(yè)新聞 簡(jiǎn)介: 光切顯微鏡是采用光切法原理測(cè)量被測(cè)工件表面的微觀平面幅度的顯微鏡。所謂光切法,即以一把“光刀”去切割工件,使之微觀平面度的輪廓顯現(xiàn)出來(lái),從而對(duì)其進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量對(duì)象除金屬表面外,還可對(duì)紙張、木材、塑料等非金屬材料表面進(jìn)行測(cè)量?! 」δ芴攸c(diǎn): 光...
激光掃描共聚焦顯微鏡的應(yīng)用 - 分析行業(yè)新聞 應(yīng)用功能 激光掃描共聚焦顯微鏡(Confocal laser scanning microscope,CLSM)是近代*先進(jìn)的細(xì)胞生物醫(yī)學(xué)分析儀器之一。它是在熒光顯微鏡成像的基礎(chǔ)上加裝激光掃描裝置,使用紫外光或可見(jiàn)光激光熒光探針,利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理...
與電子顯微鏡相比,光學(xué)顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是什么 - 分析行業(yè)新聞 電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡的成像原理基本一樣,所不同的是前者用電子束作光源,用電磁場(chǎng)作透鏡。另外,由于電子束的穿透力很弱 ,因此用于電鏡的標(biāo)本須制成 ...
掃描電子顯微鏡能譜儀(EDS)原理 - 分析行業(yè)新聞 能譜儀結(jié)構(gòu)及工作原理 X射線能量色散譜分析方法是電子顯微技術(shù)*基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常稱為X射線能譜分析法,簡(jiǎn)稱EDS或EDX方法。它是分析電子顯微方法中*基本,*可靠,*重要的分析方法,所以一直被廣泛使用。 1。特征X射線的產(chǎn)...
徠卡正置熒光顯微鏡操作規(guī)程 - 分析行業(yè)新聞 徠卡正置熒光顯微鏡操作步驟 1.連接電源,打開(kāi)電腦主機(jī)及顯微鏡電源,插上加密狗; 2.將顯微鏡目鏡插銷發(fā)出(只需拔出一半即可);顯微鏡各項(xiàng)設(shè)置已調(diào)好,未經(jīng)管理人同意,任何人不得隨意變動(dòng); 3.可在顯微鏡下觀察病...
電子顯微鏡的發(fā)展歷史 - 分析行業(yè)新聞 1926年漢斯·布什研制了**個(gè)磁力電子透鏡?! ?931年厄恩斯特·盧斯卡和馬克斯·克諾爾研制了**臺(tái)透視電子顯微鏡。展示這臺(tái)顯微鏡時(shí)使用的還不是透視的樣本,而是一個(gè)金屬格。1986年盧斯卡為此獲得諾貝爾物理獎(jiǎng)。 1934年鋨酸被提議用來(lái)加強(qiáng)圖像的對(duì)...
原子力顯微鏡各有哪些優(yōu)缺點(diǎn) - 分析行業(yè)新聞 原子力顯微鏡是掃描探針顯微鏡的一種,人們經(jīng)常把它和掃描電子顯微鏡相比,下面就來(lái)說(shuō)下它倆各自的優(yōu)缺點(diǎn)?! ∫弧?yōu)點(diǎn) 相對(duì)于掃描電子顯微鏡,原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點(diǎn)。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像,AFM提供真正的三維表面圖。同時(shí),AFM不需要對(duì)樣品的任何...
電子顯微鏡金相顯微鏡的不同之處 - 分析行業(yè)新聞 掃描電鏡 (Scanning ElectronMicroscope ),簡(jiǎn)寫(xiě)為 SEM,是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng);濃縮了電子光學(xué)技術(shù)真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)。掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過(guò)多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)小的...
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